
El ARIES IC Test & Burn-in Socket está diseñado cuidadosamente para una integración perfecta con paquetes DIP40, asegurando un rendimiento confiable durante los procesos de prueba y burn-in.
Diseñada para ofrecer una conectividad precisa, esta toma cuenta con una construcción robusta que resiste altas temperaturas, lo que la hace ideal para escenarios de aplicación exigentes.
Experimenta una integridad de contacto superior con sus pines chapados en oro, que ofrecen una conductividad eléctrica excepcional y una pérdida de señal mínima para mejorar la precisión y eficiencia.
Ya sea en una línea de producción de alto volumen o durante evaluaciones individuales de chips, este zócalo se destaca en ofrecer resultados confiables, asegurando altos estándares en las pruebas de semiconductores.
| Marca | Waveshare |
| Modelo | DIP 40 Pin ZIF Socket (ARIES Black) |